

弁理士
田中 悠
Yu TANAKA
| 学歴 | 筑波大学 第三学群 工学基礎学類卒業(工学士) 筑波大学大学院 理工学研究科修了(工学修士) |
|---|---|
| 資格 | 工学修士 弁理士 TOEIC 855 |
| 使用可能言語 | 日本語、英語 |
| 職歴 | 大手半導体製造装置メーカ(2005-2009) 中堅特許事務所(2009-2023) SK弁理士法人(2023.05-) |
| 取扱分野 | 工学分野における数理モデル・数値解析のバックグラウンドと、半導体製造装置メーカーでの実務経験をもとに、機械・電気・電子・半導体・製造装置・ソフトウェアを中心に、撮像、光検出、発光装置、光学モジュール、制御、数値解析、シミュレーション、産業機械関連の発明に対応しています。特に、理論モデルと実機挙動の差異や、ばらつき・ノイズ・動作条件の端部といった現実的制約を踏まえた検討を要する案件について、技術内容を深く理解したうえで整理し、明細書および請求項へ適切に落とし込む実務に対応しています。 【主な技術分野】 ●撮像・光検出技術 (撮像装置、イメージセンサ、光検出装置、光センサ、特殊撮像技術、信号読出し・検出技術 等) ●発光・光学モジュール技術 (発光装置、発光モジュール、導光板、光学部品 等) ●半導体・製造プロセス技術 (半導体製造装置、配線基板、発光装置・発光素子の製造方法、加工・接合・実装技術 等) ●制御・数値解析・シミュレーション技術 (制御アルゴリズム、モデルベース制御、数理モデル・物理モデル、最適化計算、数値シミュレーション、信号処理、データ解析 等) ●産業機械・メカトロニクス技術 (加工装置、製造装置、各種機械システム、駆動・制御機構 等) ●ソフトウェア・情報処理技術 (画像処理、外観検査、推定処理、データ解析、GUI・ユーザインタフェース、各種ソフトウェア関連発明 等) |
| 外国出願・国際特許実務 | 各国制度や審査実務の差異を踏まえ、日本出願段階から外国出願を見据えた明細書構成およびクレーム設計を行い、技術的本質を維持した権利化対応に努めています。 |
| その他 | これまでの豊富な実務経験と理工学分野でのバックグラウンドをもとに、機械・電機・半導体製造装置・ソフトウェアを中心に、制御、数値解析、産業機械関連の発明にも対応可能です。 |
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